Rubric: Proceedings - ITG Reports
Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 231)

GI ; GMM ; ITG

Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 231)

5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg

ITG-Fachbericht Band 231

2011, 150 Seiten, DIN A4, kartoniert,
ISBN 978-3-8007-3357-6
CD
Rebate

Contents

Die Fachtagung „Zuverlässigkeit und Entwurf“ (ZuE) wird von der Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und Systementwurf (RSS) der GI/GMM/ITG 2011 in Hamburg-Harburg durchgeführt. Sicherheit und Robustheit mikroelektronischer Schaltungen und Systeme bilden dieses Jahr den besonderen Schwerpunkt der Fachtagung.

 

This conference proceeding contains the following papers, purchasable as PDF download with payment via credit card:
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1

Dependable Computing and Assessment of Dependability

Authors:
Arlat, Jean; Arlat, Jean
2

Automating Software Tool Qualification for Design and Test of Safety-Critical Systems

Authors:
Izosimov, Viacheslav
3

SystemC-Fehlersimulation auf der Systemebene mit nebenläufig-komparativen Verfahren

Authors:
Lu, Weiyun; Radetzki, Martin
4

Hochoptimierter Ablauf zur Robustheitsprüfung

Authors:
Frehse, Stefan; Haedicke, Finn; Diepenbeck, Melanie; Fey, Görschwin; Drechsler, Rolf
5

Eingebetteter Test zur hochgenauen Defekt-Lokalisierung

Authors:
Mumtaz, Abdullah; Imhof, Michael E.; Holst, Stefan; Wunderlich, Hans-Joachim
6

Robuster Selbsttest mit Diagnose

Authors:
Cook, Alejandro; Hellebrand, Sybille; Indlekofer, Thomas; Wunderlich, Hans-Joachim
7

XML-basierte hierarchische Beschreibungssprache für 3D-Systeme

Authors:
Heinig, Andy; Wolf, Susann; Knöchel, Uwe
8

ExtraTime: A Framework for Exploration of Clock and Power Gating for BTI and HCI Aging Mitigation

Authors:
Oboril, Fabian; Tahoori, Mehdi B.
9

Mehrstufig kalibrierbare temperaturstabile Referenz

Authors:
Gruber, Dominik; Hilber, Gerald; Ostermann, Timm
10

Korrektur transienter Fehler in eingebetteten Speicherelementen

Authors:
Imhof, Michael E.; Wunderlich, Hans-Joachim
11

Reduction of Thermal Imbalances and Hot Spots in Networks-on-Chip Using Proactive Temperature Management

Authors:
Wegner, Tim; Gag, Martin; Timmermann, Dirk; Uhrmacher, Adelinde
12

A Robust Approach to Reliability Hotspot Detection

Authors:
Melzner, Hanno; Georgakos, Georg; Hommel, Martina; Gustin, Wolfgang
13

Analysis of Failure Detection Methods in Automotive Data Transmission Networks

Authors:
Trombetti, Daniela; Frei, Stephan; Hell, Magnus Maria; Metzner, Dieter
14

Evaluation of Switch-to-Switch Header Flit Protection Schemes in Networks-on-Chip

Authors:
Gag, Martin; Gorski, Philipp; Wegner, Tim; Timmermann, Dirk
15

Fehlertolerantes differentielles Q-Routing für On-Chip-Verbindungsnetzwerke mit beliebiger Topologie

Authors:
Radetzki, Martin
16

Fast and Accurate Soft Error Rate Estimation at RTL level

Authors:
Chen, Liang; Firouzi, Farshad; Kiamehr, Saman; Tahoori, Mehdi B.
17

Eine Methodik zur Analyse erhöhter Beanspruchungen von Halbleiterkomponenten und deren AVT hinsichtlich geänderter Anforderungen im Automobil

Authors:
Hahn, Daniel; Straube, Stefan; Middendorf, Andreas; Lochner, Helmut; Abelein, Ulrich; Lang, Klaus-Dieter
18

Recently updated FIDES 2009 reliability prediction standard compared to FIDES 2004 and others for realistic failure rates of electronic parts required for quantitative Safety Analysis

Authors:
Hoppe, Wolfgang; Hoppe, Martin
19

Stacking-based Input Reordering for NBTI Aging Reduction

Authors:
Kiamehr, Saman; Firouzi, Farshad; Tahoori, Mehdi B.
20

Variation of Propagation Delay and Power Dissipation in CMOS Due To Input Pattern and Technology Scaling

Authors:
Al-Eryani, Jidan; Sattler, Sebastian
21

Eine neuartige Device-Array Teststruktur für statistische Untersuchungen von Degradations- und Relaxationseffekten

Authors:
Schlünder, C.; Berthold, J. M.; Hoffmann, M.; Gustin, W.; Reisinger, H.
22

Kombinierte Codes mit nichtlinearen Prüfbits

Authors:
Nieß, Günther; Sogomonyan, Egor; Gössel, Michael; Kern, Thomas; Rabenalt, Thomas
23

Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation

Authors:
Koal, Tobias; Beck, Matthias-Stephan; Vierhaus, Heinrich. T.
24

SYCYPHOS: Ein Framework zum Entwurf von Cyber Physical Systems

Authors:
Wenninger, Joseph; Haase, Jan; Schupfer, Florian; Gravogl, Klaus; Grimm, Christoph
25

A new physics-based NBTI model for DC-and AC-stress enabling accurate circuit aging simulations considering recovery

Authors:
Schlünder, Christian; Reisinger, Hans; Gustin, Wolfgang; Grasser, Tibor

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