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Rubrik: Proceedings
- GMM-Fachberichte
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2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt GMM-Fachbericht Band 57
2008, 172 Seiten, DIN A4, kartoniert,
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105,00 € Fachbuch
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Es besteht dringender Bedarf an innovativen Verfahren, um die Ausbeute und die Zuverlässigkeit von mikro- und nanoelektronischen Systemen durch Fehlertoleranz und integrierte Reparaturmechanismen zu gewährleisten und ihre Qualität durch entsprechende Entwurfs-, Verifikations- und Testverfahren sicher zu stellen. Diese Verfahren müssen sowohl Fertigungsfehler und Parameterschwankungen als auch Störungen während des Betriebskompensieren können.
Diese Themen werden in diesem Tagungsband intensiv behandelt. Die veröffentlichten Artikel beschreiben die aktuellen Arbeitsergebnisse aus den bedeutenden nationalen und internationalen Forschungsstätten und der industriellen Praxis. Kurzfassungen der vorgestellten Poster geben Einblick in laufende Arbeiten. Die Auswahl der Beiträge ergibt einen umfassenden Überblick über die Aktivitäten im deutschsprachigen Raum im Bereich Zuverlässigkeit und Entwurf mikroelektronischer Schaltungen und Systeme.
Diese Themen werden in diesem Tagungsband intensiv behandelt. Die veröffentlichten Artikel beschreiben die aktuellen Arbeitsergebnisse aus den bedeutenden nationalen und internationalen Forschungsstätten und der industriellen Praxis. Kurzfassungen der vorgestellten Poster geben Einblick in laufende Arbeiten. Die Auswahl der Beiträge ergibt einen umfassenden Überblick über die Aktivitäten im deutschsprachigen Raum im Bereich Zuverlässigkeit und Entwurf mikroelektronischer Schaltungen und Systeme.
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| 1 |
Robustness Validation for Automotive ProductsAutoren:
Preussger, Andreas
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| 2 |
Model-based Testing and Diagnosis for Mixed-signal Systems-in-PackageAutoren:
Müller, Reik; Wegener, Carsten; Jentschel, Hans-Joachim; Sattler, Sebastian
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| 3 |
Automatischer Abgleich von LeistungskopplernAutoren:
Uygur, Gürkan; Helmreich, Klaus
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| 4 |
Test von Analogschaltungen mit VersorgungsspannungstransienteAutoren:
Arabackyj, Marc
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| 5 |
Entwurfsregeln für integrierte SRAM Speicher zur Unterdrückung von Multi-Bit Fehlern in sub-100nm CMOS TechnologienAutoren:
Georgakos, Georg; Borucki, Ludger; Gawlina, Yvonne
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| 6 |
Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse für eingebettete SpeicherAutoren:
Öhler, Philipp; Bosio, Alberto; Natale, Giorgio Di; Hellebrand, Sybille
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| 7 |
Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für LogikAutoren:
Koal, T.; Scheit, D.; Vierhaus, H. T.
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| 8 |
Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPGAutoren:
Hunger, Marc; Hellebrand, Sybille
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| 9 |
Formaler Nachweis der Fehlertoleranz von SchaltkreisenAutoren:
Fey, Görschwin; Fey, Görschwin; Sülflow, André; Frehse, Stefan; Kühne, Ulrich; Drechsler, Rolf
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| 10 |
Zur Zuverlässigkeitsmodellierung von Hardware- Software-SystemenAutoren:
Kochte, Michael A.; Baranowski, Rafal; Wunderlich, Hans-Joachim
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| 11 |
Accurate approximation to the probability of critical performanceAutoren:
Sohrmann, Christoph; Muche, Lutz; Haase, Joachim
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| 12 |
Fehlertoleranz in Networks-on-Chip mit Deflection RoutingAutoren:
Radetzki, Martin
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Erkennung von transienten Fehlern in Schaltungen mit reduzierter VerlustleistungAutoren:
Imhof, Michael E.; Wunderlich, Hans-Joachim; Zoellin, Christian G.
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| 14 |
Design Quality in the Development of Automotive Smart Power ICsAutoren:
Pelz, Georg; Gergintschew, Zenko; Zeller, Christoph
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| 15 |
Redundanz in Repeaternetzwerken auf ULSI-Chips zur Erhöhung der funktionalen und parametrischen AusbeuteAutoren:
Panitz, P.; Olbrich, M.; Barke, E.; Bühler, M.; Koehl, J.
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| 16 |
Quantitative Assessment of Wiring Layout QualityAutoren:
Melzner, Hanno; Müller-L., Guntram E.
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Yield Optimization to Gain Reliable and Area Efficient Data-Converters using Nonideal Nanoscale ProcessesAutoren:
Kosakowski, Martin; Wittmann, Reimund; Schardein, Werner
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| 18 |
Robust Analog Design for Automotive Applications by Design CenteringAutoren:
Sobe, Udo; Rooch, Karl-Heinz; Pronath, Michael
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| 19 |
Abschätzung von Bauelemente-Lebensdauer und SOA-Grenzen zur Unterstützung des Entwurfs zuverlässiger SchaltungenAutoren:
Jancke, Roland; Ellmers, Christoph; Frevert, Ronny; Gaertner, Roberto
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| 20 |
Auswirkungen von Toleranzen der Aufbau- und Verbindungstechnik auf das elektrische Verhalten integrierter HF-KomponentenAutoren:
Maaß, Uwe; Ohnimus, Florian; Curran, Brian; Ndip, Ivan; Guttowski, Stephan; Reichl, Herbert
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| 21 |
Comparing Two AnalogWaveforms - A Trivial Task?Autoren:
Ohlendorf, Ole; Steinhorst, Sebastian; Hartong, Walter; Hedrich, Lars
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| 22 |
Diagnose realistischer Defekte mit Hilfe des X-FehlermodellsAutoren:
Ilia Polian; Nakamura, Yusuke; Engelke, Piet; Hillebrecht, Stefan; Miyase, Kohei; Kajihara, Seiji; Becker, Bernd; Wen, Xiaoqing
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| 23 |
Fehlertolerante Busse basierend auf Codes und SelbstreparaturAutoren:
Scheit, Daniel; Vierhaus, Heinrich Theodor
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| 24 |
Formale Verifikation eines komplexen seriellen Kommunikationsprotokolls – „Lessons Learned“ am Beispiel einer FlexRay-IPVerifikationAutoren:
Kimmeskamp, Thorsten; Jochim, Markus; Formann, Johannes; Echtle, Klaus; Bulach, Slava; Weinberger, Katharina
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| 25 |
Simulation analoger Schaltungen mit affiner ArithmetikAutoren:
Grabowski, D.; Olbrich, M.; Barke, E.
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| 26 |
Verification of Safe Operating Area (SOA) Constraints in Analog CircuitsAutoren:
Sobe, Udo; Rooch, Karl-Heinz; Mörtl, Dietmar; Graupner, Achim; Lerch, André; Pronath, Michael
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