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Rubrik: Proceedings
- GMM-Fachberichte
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4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth GMM-Fachbericht Band 66
2010, 120 Seiten, DIN A4, kartoniert,
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73,00 € Fachbuch
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Die Fachtagung „Zuverlässigkeit und Entwurf“ (ZuE) wird 2010 in Wildbad Kreuth mit besonderer Ausrichtung auf neue technologische Herausforderungen mit Unterstützung der Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und Systementwurf (RSS) der GI/GMM/ITG durchgeführt. Zu diesen Herausforderungen gehören beispielsweise Entwurf und Test fehlertoleranter und sicherheitskritischer Schaltungen und Systeme, Robustheitsprüfungen von digitalen und analogen Systemen und ihre Verifikation, Alterung und Verfahren der Selbstreparatur.
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| 1 |
Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und SystemeAutoren:
Radetzki, Martin; Bringmann, Oliver; Nebel, Wolfgang; Olbrich, Markus; Salfelder, Felix; Schlichtmann, Ulf
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| 2 |
Robuster Selbsttest mit extremer KompaktierungAutoren:
Indlekofer, Thomas; Schnittger, Michael; Hellebrand, Sybille
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| 3 |
Effiziente Simulation von strukturellen Fehlern für die Zuverlässigkeitsanalyse auf SystemebeneAutoren:
Kochte, Michael A.; Zöllin, Christian G.; Baranowski, Rafal; Imhof, Michael E.; Wunderlich, Hans-Joachim; Hatami, Nadereh; Carlo, Stefano Di; Prinetto, Paolo
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| 4 |
A new physics-based NBTI model for DC- and AC-stress enabling accurate circuit aging simulations considering recoveryAutoren:
Schlünder, Christian; Reisinger, Hans; Gustin, Wolfgang; Grasser, Tibor
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| 5 |
Timing-Modell für Makrozellen zur AlterungsanalyseAutoren:
Lorenz, Dominik; Barke, Martin; Schlichtmann, Ulf
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| 6 |
Analysis on Effectiveness of SRAM Test Algorithms and Test Statistics on Industrial DataAutoren:
Linder, Michael; Eder, Alfred; Oberländer, Klaus; Resch, Gerald; Huch, Martin
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| 7 |
A Holistic Approach of an Architecture for Tests of FPGA Based Systems with Boundary ScanAutoren:
Sachße, Jörg; Ostendorff, Steffen; Wuttke, Heinz-Dietrich; Meza Escobar, Jorge Hernán
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| 8 |
An opamp array test structure for stress test measurementsAutoren:
John, Bibin; Hafkemeyer, Kristian M.; Krautschneider, Wolfgang H.
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| 9 |
IR-Thermographie zur Qualitätssicherung von elektrischen Durchkontaktierungen in LeiterplattenAutoren:
Ras, M. Abo; Ras, M. Abo; May, D.; May, D.; Schacht, R.; Schacht, R.; Wunderle, B.; Wunderle, B.; Michel, B.
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| 10 |
Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren der Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen und SystemeAutoren:
Koal, Tobias; Scheit, Daniel; Vierhaus, Heinrich T.
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| 11 |
Testmethodik zur Untersuchung von geringen LeckströmenAutoren:
Kirsten, Dagmar; Rolapp, Alexander; Nuernbergk, Dirk M.
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| 12 |
Totally Self-Checking Ripple-Carry-AddersAutoren:
Kehl, Natalja; Rosenstiel, Wolfgang
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| 13 |
Kompositionelle Formale RobustheitsprüfungAutoren:
Frehse, Stefan; Fey, Görschwin
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| 14 |
Orbital-X: Fehlertoleranter Rechner für RaumfahrtanwendungenAutoren:
Ortner, Jan; Frickel, Jürgen; Sattler, Sebastian M.; Glauert, Wolfram; Kandler, Bernd; Göbel, Richard; Hager, Philipp; Walter, Ulrich; Graf, Hans-Rainer
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| 15 |
Auswirkung von Paramterschwankungen bei verschiedenen Fertigungsverfahren von Kupfer-LeitungsstrukturenAutoren:
Heinig, Andy
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| 16 |
Parameterextraktion VRH-basierter Modelle für organische FeldeffekttransistorenAutoren:
Schirmer, Wolfgang; Glauert, Wolfram H.; Blache, Robert; Krumm, Jürgen; Schmidt, Klaus
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| 17 |
Ausbeute und Fehlertoleranz bei dreifach modularer RedundanzAutoren:
Hunger, Marc; Hellebrand, Sybille
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| 18 |
Eine neue Fehlertoleranzmethode zur Verringerung des Flächenaufwandes von TMR-SystemenAutoren:
Augustin, Michael; Gössel, Michael; Kraemer, Rolf
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| 19 |
Complete Verification ofWeakly Programmable IPs against their Operational ISA ModelAutoren:
Loitz, Sacha; Wedler, Markus; Stoffel, Dominik; Brehm, Christian; Kunz, Wolfgang; Wehn, Norbert
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| 20 |
Online Transient Error Detection and Recovery in Re-order Buffers of Superscalar ProcessorsAutoren:
Shazli, Syed; Tahoori, Mehdi
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| 21 |
Design for Reliability (DfR) - A key requirement for modern product designAutoren:
Schlünder, Christian
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