GI ; GMM ; ITG

Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 231)

5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg

ITG-Fachbericht Band 231

2011, 150 Seiten, DIN A4, kartoniert,
ISBN 978-3-8007-3357-6

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Die Fachtagung „Zuverlässigkeit und Entwurf“ (ZuE) wird von der Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und Systementwurf (RSS) der GI/GMM/ITG 2011 in Hamburg-Harburg durchgeführt. Sicherheit und Robustheit mikroelektronischer Schaltungen und Systeme bilden dieses Jahr den besonderen Schwerpunkt der Fachtagung.

Dieser Tagungsband enthält folgende Beiträge, die Sie einzeln als PDF-Download erwerben können:


1	Dependable Computing and Assessment of Dependability Autoren: Arlat, Jean; Arlat, Jean

2	Automating Software Tool Qualification for Design and Test of Safety-Critical Systems Autoren: Izosimov, Viacheslav

3	SystemC-Fehlersimulation auf der Systemebene mit nebenläufig-komparativen Verfahren Autoren: Lu, Weiyun; Radetzki, Martin

4	Hochoptimierter Ablauf zur Robustheitsprüfung Autoren: Frehse, Stefan; Haedicke, Finn; Diepenbeck, Melanie; Fey, Görschwin; Drechsler, Rolf

5	Eingebetteter Test zur hochgenauen Defekt-Lokalisierung Autoren: Mumtaz, Abdullah; Imhof, Michael E.; Holst, Stefan; Wunderlich, Hans-Joachim

6	Robuster Selbsttest mit Diagnose Autoren: Cook, Alejandro; Hellebrand, Sybille; Indlekofer, Thomas; Wunderlich, Hans-Joachim

7	XML-basierte hierarchische Beschreibungssprache für 3D-Systeme Autoren: Heinig, Andy; Wolf, Susann; Knöchel, Uwe

8	ExtraTime: A Framework for Exploration of Clock and Power Gating for BTI and HCI Aging Mitigation Autoren: Oboril, Fabian; Tahoori, Mehdi B.

9	Mehrstufig kalibrierbare temperaturstabile Referenz Autoren: Gruber, Dominik; Hilber, Gerald; Ostermann, Timm

10	Korrektur transienter Fehler in eingebetteten Speicherelementen Autoren: Imhof, Michael E.; Wunderlich, Hans-Joachim

11	Reduction of Thermal Imbalances and Hot Spots in Networks-on-Chip Using Proactive Temperature Management Autoren: Wegner, Tim; Gag, Martin; Timmermann, Dirk; Uhrmacher, Adelinde

12	A Robust Approach to Reliability Hotspot Detection Autoren: Melzner, Hanno; Georgakos, Georg; Hommel, Martina; Gustin, Wolfgang

13	Analysis of Failure Detection Methods in Automotive Data Transmission Networks Autoren: Trombetti, Daniela; Frei, Stephan; Hell, Magnus Maria; Metzner, Dieter

14	Evaluation of Switch-to-Switch Header Flit Protection Schemes in Networks-on-Chip Autoren: Gag, Martin; Gorski, Philipp; Wegner, Tim; Timmermann, Dirk

15	Fehlertolerantes differentielles Q-Routing für On-Chip-Verbindungsnetzwerke mit beliebiger Topologie Autoren: Radetzki, Martin

16	Fast and Accurate Soft Error Rate Estimation at RTL level Autoren: Chen, Liang; Firouzi, Farshad; Kiamehr, Saman; Tahoori, Mehdi B.

17	Eine Methodik zur Analyse erhöhter Beanspruchungen von Halbleiterkomponenten und deren AVT hinsichtlich geänderter Anforderungen im Automobil Autoren: Hahn, Daniel; Straube, Stefan; Middendorf, Andreas; Lochner, Helmut; Abelein, Ulrich; Lang, Klaus-Dieter

18	Recently updated FIDES 2009 reliability prediction standard compared to FIDES 2004 and others for realistic failure rates of electronic parts required for quantitative Safety Analysis Autoren: Hoppe, Wolfgang; Hoppe, Martin

19	Stacking-based Input Reordering for NBTI Aging Reduction Autoren: Kiamehr, Saman; Firouzi, Farshad; Tahoori, Mehdi B.

20	Variation of Propagation Delay and Power Dissipation in CMOS Due To Input Pattern and Technology Scaling Autoren: Al-Eryani, Jidan; Sattler, Sebastian

21	Eine neuartige Device-Array Teststruktur für statistische Untersuchungen von Degradations- und Relaxationseffekten Autoren: Schlünder, C.; Berthold, J. M.; Hoffmann, M.; Gustin, W.; Reisinger, H.

22	Kombinierte Codes mit nichtlinearen Prüfbits Autoren: Nieß, Günther; Sogomonyan, Egor; Gössel, Michael; Kern, Thomas; Rabenalt, Thomas

23	Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation Autoren: Koal, Tobias; Beck, Matthias-Stephan; Vierhaus, Heinrich. T.

24	SYCYPHOS: Ein Framework zum Entwurf von Cyber Physical Systems Autoren: Wenninger, Joseph; Haase, Jan; Schupfer, Florian; Gravogl, Klaus; Grimm, Christoph

25	A new physics-based NBTI model for DC-and AC-stress enabling accurate circuit aging simulations considering recovery Autoren: Schlünder, Christian; Reisinger, Hans; Gustin, Wolfgang; Grasser, Tibor

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