VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) (Hrsg)

GMM-Fb. 73: Zuverlässigkeit und Entwurf 2012

6. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 25. bis 27. September 2012 in Bremen

GMM-Fachberichte

2012, 96 pages, Slimlinebox, CD-Rom
ISBN 978-3-8007-3445-0
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Content

Eingebettete Systeme und Cyber Physical Systems, die direkt mit der Umwelt interagieren, sind allgegenwärtig. Mikroelektronik definiert dabei die wesentliche Funktionalität. Deshalb muss die Zuverlässigkeit des Systems sichergestellt werden.
Zu den Themenbereichen Entwurfsmethodik, Eingebettete Systeme, Analoge Schaltungen, Verifikation digitaler Systeme, Beschreibungssprachen und Modellierung, Layoutentwurf, Testmethoden und Diagnose werden wissenschaftliche Beiträge aus Theorie und industrieller Praxis vorgestellt.

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NEEDS – Nanoelektronik-Entwurf für 3D-Systeme

Authors:
Hylla, Kai; Metzdorf, Malte; Grünewald, Armin; Hahn, Kai; Heinig, Andy; Knöchel, Uwe; Wolf, Susann; Miller, Felix; Wild, Thomas; Quiring, Artur; Olbrich, Markus; Sattler, Sebastian; Treytnar, Dieter
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Accurate Computation of Longest Sensitizable Paths using Answer Set Programming

Authors:
Andres, Benjamin; Sauer, Matthias; Gebser, Martin; Schubert, Tobias; Becker, Bernd; Schaub, Torsten
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Der Bond-Rechner – ein Werkzeug zur Dimensionierung von Bonddrähten

Authors:
Gerlach, Andreas; Marolt, Daniel; Scheible, Jürgen
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Ein hochverlässliches, selbst-adaptives, Mixed-Signal Mehrkern-System-on-Chip

Authors:
Rosen, Julius von; Betting, Benjamin; Brinkschulte, Uwe; Hedrich, Lars
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DNL-Verfahren zur Reduktion der ADC-Testzeit und dessen Sicherheitsrisiko

Authors:
Rantisi, Mohammed; Sattler, Sebastian
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Robuste Power-On-Reset Schaltung mit Kalibrierung im Fertigungstest

Authors:
Hilber, Gerald; Gruber, Dominik; Sams, Michael; Ostermann, Timm
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Verifikation des Power-Down-Modus von analogen Schaltungen

Authors:
Zwerger, Michael; Gräb, Helmut
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Logic Self Repair Architecture with Self Test Capabilities

Authors:
Koal, Tobias; Ulbricht, Markus; Engelke, Piet; Vierhaus, Heinrich T.
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Hardware-Software-Co-Synthese zur Verbesserung der Fehlertoleranz

Authors:
Frehse, Stefan; Riener, Heinz; Fey, Görschwin