Luhmann, Thomas; Schumacher, Christina (Ed.)

Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3D-Messtechnik

Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2018

2018, X, 369 pages, 170 x 240 mm, Broschur
ISBN 978-3-87907-643-7, e-book: ISBN 978-3-87907-644-4

64.00 € Fachbuch 64.00 € e-book/PDF 89.60 € Combination

Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltete vom 31.01. bis 01.02.2018 die 17. Oldenburger 3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Fachleute aus den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik; mit ca. 230 Teilnehmern gilt sie als eine der wichtigen Veranstaltungen in diesem Bereich. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren für die Themengebiete Photogrammetrie, Laserscanning und optische 3D-Messtechnik die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form an anderer Stelle kaum zu finden sind. Aus dem Inhalt: Dynamische Prozesse, Oberflächenerfassung und Modellierung, Navigation von Objekten und Sensoren, Mobile Systeme und Plattformen, Neue Sensoren und Systeme, Messunsicherheit und Standardisierung, Kalibrierung und Orientierung.

Prof. Dr.-Ing. habil. Thomas Luhmann, Jahrgang 1957, Studium der Geodäsie an der Universität Hannover, wissenschaftlicher Mitarbeiter im Sonderforschungsbereich 149 und am Institut für Photogrammetrie und Ingenieurvermessung der Universität Hannover, Promotion 1988, Habilitation 2010. Von 1988 bis 1993 Projektleiter und Entwicklungsleiter Photogrammetrie bei Kern und Leica, Schweiz. Seit 1993 Professor für Photogrammetrie und Fernerkundung an der heutigen Jade Hochschule in Oldenburg, 1996 Gründung und Leitung des Instituts für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik. Mitglied in zahlreichen Fachgremien, u. a. bis 2001 Leiter des AK "Nahbereichsphotogrammetrie" der DGPF, bis 2004 Obmann des DGPF/VDI-Fachausschusses 3.32 "Optische 3D-Messsysteme", von 2004 bis 2008 Präsident der DGPF. Autor der Lehrbücher "Nahbereichsphotogrammetrie" und "Close Range Photogrammetry and 3D Imaging" sowie Herausgeber weiterer Werke zum Thema.

Dipl.-Ing. (FH) Christina Schumacher, Jahrgang 1974, Studium des Vermessungswesens an der Fachhochschule Oldenburg, von 2002-2010 wissenschaftliche Mitarbeiterin am Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik und dort verantwortlich für wissenschaftliche Weiterbildung und interdisziplinären Technologietransfer im Bereich der optischen 3D-Messtechnik; federführende Organisation der Oldenburger 3D-Tage; seit 2008 Technologietransferbeauftragte der Hochschule am Standort Oldenburg.

GI Geoinformatik GmbH (Ed.)

ArcGIS Pro

Das deutschsprachige Handbuch inklusive Einstieg in ArcGIS Online

2019, 526 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Joeckel, Rainer; Stober, Manfred; Huep, Wolfgang

Elektronische Entfernungs- und Richtungsmessung

und ihre Integration in aktuelle Positionierungsverfahren

2008, 526 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Hinz, Stefan; Vögtle, Thomas; Wursthorn, Sven (Ed.)

Digitale Bildverarbeitung und Geoinformation

Datenfusion unter geometrischen, physikalischen und semantischen Aspekten

2019, 341 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Bauer, Manfred

Vermessung und Ortung mit Satelliten

Globales Navigationssatellitensystem (GNSS) und andere satellitengestützte Navigationssysteme

2017, 566 pages, 170 x 240 mm, Broschur

This book is also available as E-Book (PDF)

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Noack, Patrick Ole

Precision Farming – Smart Farming – Digital Farming

Grundlagen und Anwendungsfelder

2018, 184 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Seip, Christian; Korduan, Peter; Zehner, Marco L.

Web-GIS

Grundlagen, Anwendungen und Implementierungsbeispiele

2017, 552 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Coors, Volker; Andrae, Christine; Böhm, Karl-Heinz

3D-Stadtmodelle

Konzepte und Anwendungen mit CityGML

2016, 503 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Kauer, Josef; Lehmkühler, Hardy; Steinmann, Rasso (Ed.)

BIM & GIS

Grundlagen, Synergien und Best-Practice-Beispiele

2020, ca. 180 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Vermessungskunde für das Bauwesen mit Grundlagen des Building Information Modeling (BIM) und der Statistik

Witte, Bertold; Sparla, Peter; Blankenbach, Jörg

Vermessungskunde für das Bauwesen mit Grundlagen des Building Information Modeling (BIM) und der Statistik

2020, ca. 750 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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Strobl, Josef; Zagel, Bernhard; Griesebner, Gerald; Blaschke, Thomas (Ed.)

AGIT 5-2019

Journal für Angewandte Geoinformatik

2019, X, 418 pages, 170 x 240 mm, Broschur

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