VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) (Hrsg.)

GMM-Fb. 73: Zuverlässigkeit und Entwurf 2012

6. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 25. bis 27. September 2012 in Bremen

GMM-Fachberichte

2012, 96 Seiten, Slimlinebox, CD-Rom
ISBN 978-3-8007-3445-0
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Inhaltsverzeichnis

Eingebettete Systeme und Cyber Physical Systems, die direkt mit der Umwelt interagieren, sind allgegenwärtig. Mikroelektronik definiert dabei die wesentliche Funktionalität. Deshalb muss die Zuverlässigkeit des Systems sichergestellt werden.
Zu den Themenbereichen Entwurfsmethodik, Eingebettete Systeme, Analoge Schaltungen, Verifikation digitaler Systeme, Beschreibungssprachen und Modellierung, Layoutentwurf, Testmethoden und Diagnose werden wissenschaftliche Beiträge aus Theorie und industrieller Praxis vorgestellt.

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NEEDS – Nanoelektronik-Entwurf für 3D-Systeme

Autoren: Hylla, Kai; Metzdorf, Malte; Grünewald, Armin; Hahn, Kai; Heinig, Andy; Knöchel, Uwe; Wolf, Susann; Miller, Felix; Wild, Thomas; Quiring, Artur; Olbrich, Markus; Sattler, Sebastian; Treytnar, Dieter

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Accurate Computation of Longest Sensitizable Paths using Answer Set Programming

Autoren: Andres, Benjamin; Sauer, Matthias; Gebser, Martin; Schubert, Tobias; Becker, Bernd; Schaub, Torsten

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Der Bond-Rechner – ein Werkzeug zur Dimensionierung von Bonddrähten

Autoren: Gerlach, Andreas; Marolt, Daniel; Scheible, Jürgen

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Ein hochverlässliches, selbst-adaptives, Mixed-Signal Mehrkern-System-on-Chip

Autoren: Rosen, Julius von; Betting, Benjamin; Brinkschulte, Uwe; Hedrich, Lars

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DNL-Verfahren zur Reduktion der ADC-Testzeit und dessen Sicherheitsrisiko

Autoren: Rantisi, Mohammed; Sattler, Sebastian

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Robuste Power-On-Reset Schaltung mit Kalibrierung im Fertigungstest

Autoren: Hilber, Gerald; Gruber, Dominik; Sams, Michael; Ostermann, Timm

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Verifikation des Power-Down-Modus von analogen Schaltungen

Autoren: Zwerger, Michael; Gräb, Helmut

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Logic Self Repair Architecture with Self Test Capabilities

Autoren: Koal, Tobias; Ulbricht, Markus; Engelke, Piet; Vierhaus, Heinrich T.

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Hardware-Software-Co-Synthese zur Verbesserung der Fehlertoleranz

Autoren: Frehse, Stefan; Riener, Heinz; Fey, Görschwin