VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) (Hrsg.)

GMM-Fb. 83: ZuE 2015

Zuverlässigkeit und Entwurf – Reliability by Design Beiträge der 8. GMM/ITG-Fachtagung 21. – 23. September 2015 in Siegen

GMM-Fachberichte

2015, 114 Seiten, Slimlinebox, CD-Rom
ISBN 978-3-8007-4071-0
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Inhaltsverzeichnis Vorwort

Zu den Themenbereichen der Tagung gehörten wieder Fragen zu Entwurfsmethodik, Eingebetteten Systemen, Analogen Schaltungen, Verifikation digitaler Systeme, Beschreibungssprachen und Modellierung, Layoutentwurf, Testmethoden und Diagnose. Die zur Präsentation vorgesehenen Beiträge wurden durch das Programmkomitee nach Begutachtung ausgewählt. Allen an diesem Prozess Beteiligten gilt unser Dank. Zusätzlich gab es eine Special Session aus dem DFG-Schwerpunktprogramm „Dependable Embedded Systems".
Die Mission der Tagung, Zuverlässigkeit schon in der Phase des Entwerfens moderner integrierter Systeme aus der Sicht der wissenschaftlichen Forschung und der industriellen Praxis gemeinsam zu betrachten, ist damit heute aktueller denn je.
GMM – VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik
Die GMM hat die Aufgabe, die wissenschaftliche und technische Entwicklung im Bereich der Mikroelektronik, Mikrosystem-, Nano- und Feinwerktechnik sowie deren breite Anwendungen zu fördern. Sie initiiert den dazu erforderlichen Dialog zwischen Herstellern, Anwendern und Wissenschaft und bildet ein Forum für Diskussionen über diese Techniken in der Öffentlichkeit. Die GMM vertritt die Belange der in ihr vertretenen Arbeits- und Fachgebiete gegenüber politischen Entscheidungsträgern und bringt ihre Fachkompetenz in die Gestaltung der Förderpolitik ein.

1

Constraint Propagation Methods for Robust IC Design

Autoren: Krinke, Andreas; Jerke, Goeran; Lienig, Jens

2

3

3D: Defects and Reliability

Autoren: Wahl, Michael; Gruenewald, Armin; Hahn, Kai; Brueck, Rainer

4

Bond Wire Design with the Bond Calculator

Autoren: Jung, Carl Christoph; Silber, Christian; Scheible, Juergen

5

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7

On the Automated Verification of User-defined MBIST Algorithms

Autoren: Kinseher, Josef; Richter, Michael; Polian, Ilia

8

Abstract Technology Handling for Generator-Based Analog Circuit Design

Autoren: Prautsch, Benjamin; Eichler, Uwe; Reich, Torsten; Puppala, Ajith; Lienig, Jens

9

Correcting Delay Faults and Transient Faults in Pipelines

Autoren: Scharoba, Stefan; Koal, Tobias; Vierhaus, Heinrich T.

10

Extending Microprocessor Trace Hardware for Fault Injection

Autoren: Gunia, Marco; Zabel, Martin; Spallek, Rainer G.

11

Coverage of Uncertainties in Cyber-Physical Systems

Autoren: Chipman, William; Grimm, Christoph; Radojicic, Carna

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13

Stochastic analysis of degradation and variations in CMOS-Transistors

Autoren: Hillebrand, Theodor; Hellwege, Nico; Heidmann, Nils; Paul, Steffen; Peters-Drolshagen, Dagmar

14

Cost and Reliability Trade-off during the Development of Heterogeneous 3D-Systems

Autoren: Gruenewald, Armin; Wahl, Michael; Brueck, Rainer

15

Yield Analysation and Optimization Methods for Active CMOS Pixels

Autoren: Lindner, Claus; Soell, Christopher; Roeber, Juergen; Baenisch, Andreas; Weigel, Robert