ITG / GMM / GI (Hrsg.)

ITG-Fb. 274: Zuverlässigkeit und Entwurf

9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus

ITG-Fachberichte

2017, 114 Seiten, Slimlinebox, CD-Rom
ISBN 978-3-8007-4444-2
Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Titel 10% Rabatt

Inhaltsverzeichnis Vorwort

Die Fachtagung „Zuverlässigkeit und Entwurf" (ZuE) hat sich seit ihrer Gründung durch Sebastian Sattler und Hans-Joachim Wunderlich zu dem neben der Arbeitstagung „Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ) wichtigsten Forum auf diesem Gebiet in Deutschland entwic kelt. Nach den Tagungen in Dresden (2013) und in Siegen (2015) wird die Tagung in diesem Jahr im „Fernen Osten" Deutschlands durchgeführt, und zwar in leicht verteilter Form in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Organisatoren sind das Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP) und die Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg, wobei Mario Schölzel und Milos Krstic, über ihre Rolle als Leiter des Programmkomitees, auch die Verbindung zur Universität Potsdam herstellen.

Komplexe Systeme der Steuerung, Regelung und der Kommunikation werden heute in ihrer Funktion weitgehend durch Software bestimmt, aber diese benötigt wiederum sichere und zuverlässige Hardware. Die ZuE ist als „Hardware"-Konferenz entstanden, öffnet sich aber in steigendem Maße auch Themen, die mit der Sicherheit komplexer Systeme zu tun haben. In diesem Sinne soll der Tutorial-Tag im Vorlauf des eigentlichen Programms, veranstaltet beim IHP, einen besonderen Schwerpunkt bei der Sicherheit solcher Systeme gegenüber Seitenkanalangriffen setzen.

Die eingereichten Beiträge behandeln Aspekte von Test, Zuverlässigkeit, Fehlertoleranz und Entwurfsvalidierung vornehmlich für Hardware, von Materialien bis zu komplexen verteilten Systemen, wobei die drahtlose Kommunikation eine wichtige Rolle spielt. Von 19 eingegangenen Beiträgen wurden 11 für die Präsentation in Vorträgen und 5 für Poster ausgewählt. Das Programm wird durch Keynote-Beiträge und eingeladene Vorträge ergänzt. Dass neben Beiträgen aus den Firmen IBM und GlobalFoundries auch die Philotech GmbH für eine aktive Rolle und als Sponsor gewonnen werden konnte, ein Software-Haus mit Schwerpunkt im Luftfahrt-Bereich, soll der Bedeutung der Software und deren Sicherheit Rechnung tragen.

Wir wünschen allen Teilnehmerinnen und Teilnehmern interessante Diskussionen, neue Einsichten und einen angenehmen Aufenthalt in Frankfurt (Oder) und in Cottbus. Dass hier die Straßenschilder zweisprachig sind, sollte die Gäste neugierig auf die Kultur und Geschichte der Sorben und Wenden werden lassen.
ITG – Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
Die ITG wurde 1954 gegründet und ist als interdisziplinär arbeitende, wissenschaftliche Fachgesellschaft in das fachübergreifende Netzwerk des VDE eingebunden. Sie agiert als Schnittstelle für Experten der Informationstechnik (ITK) in Wirtschaft, Verwaltung, Lehre und For chung. Ihre Mitglieder bündeln in enger internationaler Anbindung die deutsche Kompetenz im Bereich der ITK. Die ITG fördert Forschung und Anwendung dieser Schlüsseltechnologie sowie deren effizienten Einsatz in den Bereichen Daten- und Kommunikationstechnik und -systeme, Umweltschutz, Medizin und Verkehr.
Mit ihrem weitgespannten internationalen Netzwerk versteht sich die ITG als Plattform für Innovationen und Wissenstransfer für die erfolgreiche Kooperation von Industriepartnern und Forschungseinrichtungen.
Hierzu führt die ITG eine ganze Reihe von Fachtagungen, Diskussionssitzungen und Workshops durch. Mit ihren Studien und Empfehlungen bringt die ITG ihre Expertise in Politik und Gesellschaft ein und nimmt an Förderprogrammen teil.
Ein weiter Schwerpunkt der ITG-Aktivitäten ist die intensive Förderung des wissenschaftlichen Nachwuchses sowie der Aus- und Weiterbildung der auf dem Gebiet der Informationstechnik tätigen Ingenieure und Wissenschaftler.

GMM – VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
Die GMM hat die Aufgabe, die wissenschaftliche und technische Entwicklung im Bereich der Mikroelektronik, Mikrosystem-, Nano- und Feinwerktechnik sowie deren breite Anwendungen zu fördern. Sie initiiert den dazu erforderlichen Dialog zwischen Herstellern, Anwendern und Wissenschaft und bildet ein Forum für Diskussionen über diese Techniken in der Öffentlichkeit. Die GMM vertritt die Belange der in ihr vertretenen Arbeits- und Fachgebiete gegenüber politischen Entscheidungsträgern und bringt ihre Fachkompetenz in die Gestaltung der Förderpolitik ein.

GI – Gesellschaft für Informatik
Die Gesellschaft für Informatik (GI) ist ein Zusammenschluss von Menschen, die einen engen Bezug zur Informatik haben und sich für dieses Fachgebiet mit all seinen Facetten und Anwendungsgebieten interessieren. Sie ist die Fachgesellschaft für Informatik im deutschsprachigen Raum. Als solche setzt sie sich für die Interessen der Informatik in Wissenschaft, Öffentlichkeit und Politik ein.

1

ESD damage without failure, followed by EOS: A case study on automotive smart power ICs

Autoren: Helmut, Dennis; Wachutka, Gerhard; Groos, Gerhard

2

Erstellung eines Modells der Kritischen Ladung zur Bewertung der Robustheit gegenüber SETs und SEUs: Fallstudie Muller C-Element

Autoren: Andjelkovic, Marko; Krstic, Milos; Kraemer, Rolf; Veeravalli, Varadan Savulimedu; Steininger, Andreas

3

Forward Error Correction in Industrial Wireless Communication

Autoren: Pfeifer, Petr; Gleichner, Christian; Vierhaus, Heinrich T.

4

5

Predictive System-Level Constraint Verification and Optimization

Autoren: Krinke, Andreas; Lei, Lei; Lienig, Jens

6

Power-Down-Synthese für analoge Schaltungen

Autoren: Neuner, Maximilian; Zwerger, Michael; Graeb, Helmut

7

A Multiplying 1.5V 12-bit 60-MS/s Current Steering CMOS Digitalto- Analog Converter for low Latency Transceiver Front-Ends in Industrial Radio Applications

Autoren: Wittmann, Reimund; Teschner, Robert; Henkel, Frank; Tittelbach-Helmrich, Klaus; Wolf, Andreas

8

Failure-Rate Analysis based on Microprocessor Trace Data

Autoren: Zabel, Martin; Brinker, Matthias; Koehler, Steffen; Spallek, Rainer G.

9

Holistic view of the reliability prediction using the example of steering electronics

Autoren: Weinrich, Ulrike; Baumann, Gerd; Reuss, Hans-Christian; Walz, Stefan

10

11

TAP-Controller Modellierung mit Signalflussgraphen

Autoren: Babba, Farouk; Sattler, Sebastian

12

Timing Variability Analysis of Digital CMOS Circuits

Autoren: Rangan, Jahnavi Kasturi; Aryan, Nasim Pour; Bargfrede, Jens; Funke, Christian; Graeb, Helmut

13

Low ppm failure analysis for advanced Cu and Cu alloy on-chip wiring

Autoren: Kraatz, Matthias; Hauschildt, Meike; Gall, Martin; Zschech, Ehrenfried

14

2D TCAD Simulations of Single Event Transients in 250 nm Bulk CMOS Technology

Autoren: Andjelkovic, Marko; Jagdhold, Ulrich; Krstic, Milos; Kraemer, Rolf

15

16

Strukturtreue Modellierung anhand von Signalflussgraphen

Autoren: Denguir, M.; Uygur, G.; Sattler, S.; Cella, B.; Schmidt, M.; Egelhofer, T.; Scheffold, B