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1

Alterungsanalyse digitaler Schaltungen auf Gatterebene

Autoren:
Lorenz, Dominik; Georgakos, Georg; Schlichtmann, Ulf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

2

Analyse und Optimierung von fehlertoleranten Eingebetteten Systemen mit gehärteten Prozessoren

Autoren:
Izosimov, Viacheslav; Polian, Ilia; Pop, Paul; Eles, Petru; Peng, Zebo
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

3

Anwendungsbezogene Analyse der Robustheit von Digitalen Schaltungen

Autoren:
Sülflow, André; Frehse, Stefan; Fey, Görschwin; Drechsler, Rolf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

4

Automatische Generierung hierarchischer Platzierungsregeln für analoge integrierte Schaltungen

Autoren:
Eick, M.; Strasser, M.; Gräb, H.; Schlichtmann, U.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

5

Basic design challenges for logical gates using non-standard technologies or circuit concept approaches

Autoren:
Amar, Ahmed; Glauert, Wolfram H.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

6

Comparison of 4 Reliability Prediction Approaches for realistic failure rates of electronic parts required for Safety & Reliability Analysis

Autoren:
Hoppe, Wolfgang; Schwederski, Patrick
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

7

Degradierbare Switches für fehlertolerante Networks-on-Chip

Autoren:
Kohler, Adan; Radetzki, Martin
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

8

Design for reliability of analog circuits in nanometer CMOS technology

Autoren:
Gielen, Georges; Maricau, Elie; Wit, Pieter De
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

9

Entwurfsmethodik für einen Multi-Design-Rule Via-Testchip

Autoren:
Kohlert, D.; Holmer, R.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

10

Entwurfsregeln für integrierte SRAM Speicher zur Unterdrückung von Multi-Bit Fehlern in sub-100nm CMOS Technologien

Autoren:
Georgakos, Georg; Borucki, Ludger; Gawlina, Yvonne
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

11

Increasing Test Quality and Device Reliability by Test Simulation

Autoren:
Lu, Ping; Glaser, Daniel; Uygur, Guerkan; Weichslgartner, Susanne; Helmreich, Klaus; Lechner, Armin
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

12

Laser Scanner Lokalisierungsmethode für die schnelle Analyse von DRAM Komponenten

Autoren:
Versen, Martin; Schramm, Achim; Schnepp, Jan; Hoch, Sascha; Vikas, Tapan; Diaconescu, Dorina
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

13

Logisch-statistische Simulation mit Temperatur- und Spannungskartierung zur Vorhersage von Variations- und Alterungseffekten

Autoren:
Helms, Domenik; Hylla, Kai,; Nebel, Wolfgang
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

14

Metric-Driven Validation and Verification of Software for Embedded Systems

Autoren:
Winterholer, Markus
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

15

Neue Herausforderungen an die Verdrahtungsvorhersage beim 3D-Layoutentwurf

Autoren:
Meister, Tilo; Lienig, Jens
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

16

Neue Teststrukturen zur Messung von Matching und Alterung an MOS-Transistoren

Autoren:
Meister, Michael; Nuernbergk, Dirk
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

17

Optimales, skalierbares Ressourcenmanagement für modulare, gemischt analog-digitale Testsysteme

Autoren:
Uygur, Gürkan; Lu, Ping; Glaser, Daniel; Weichslgartner, Susanne; Helmreich, Klaus; Sattler, Sebastian; Lechner, Armin; Brenneke, Andreas
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

18

Robustheitsanalyse stark fehlersicherer Schaltungen mit SAT-basierter Testmustererzeugung

Autoren:
Hunger, Marc; Hellebrand, Sybille; Czutro, Alexander; Polian, Ilia; Becker, Bernd
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

19

Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen

Autoren:
Koal, T.; Scheit, D.; Vierhaus, H. T.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

20

Statistische Parasitics-Extraktion und Crosstalk-Noise

Autoren:
Heinig, Andy; Sohrmann, Christoph
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung