1
Untersuchung der Zuverlässigkeit hochtemperaturgeeigneter Baugruppen
Autoren:
Pape, Uwe; Rittner, M.; Liebl, T.; Neher, W.; Nowottnick, M.
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung
2
Verarbeitung und Zuverlässigkeit gelöteter und leitgeklebter Fine-Pitch-Bauelemente auf starren und flexiblen Substraten
Autoren:
Schüßler, Florian; Feldmann, Klaus; Wölflick, Peter
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung
3
Zuverlässigkeit von Beschichtungsstoffen für elektronische Baugruppen bei Belastung durch Temperaturdauerstress und Temperaturwechselstress
Autoren:
Suppa, Manfred
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung
4
Zuverlässigkeit von nachgearbeiteten Baugruppen
Autoren:
Schimpf, Claudius; Rösch, Michael; Feldmann, Klaus
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung
5
Zuverlässigkeitsaspekte der chemischen NiP/ Au-Abscheidung
Autoren:
Schmidt, Ralf; Zwanzig, Michael
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung