Cover E DIN IEC/TS 62916 VDE V 0126-80:2016-03
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E DIN IEC/TS 62916 VDE V 0126-80:2016-03

Prüfung der Störfestigkeit von Bypass-Dioden für Photovoltaikmodule gegen Entladung von statischer Elektrizität

(IEC 82/932/CD:2015)
Art/Status: Norm-Entwurf, gültig
Ausgabedatum: 2016-03   Erscheinungsdatum: 2016-02-26
VDE-Artnr.: 1100356
Ende der Einspruchsfrist: 2016-04-26

Inhaltsverzeichnis

In dieser Technischen Spezifikation werden ein Verfahren zur Prüfung von Bypass-Dioden diskreter Bauteile auf ihre Störfestigkeit gegen die Entladung von statischer Elektrizität (en: electrostatic discharge, ESD) und ein entsprechendes Datenanalyseverfahren beschrieben. Im Rahmen dieses Prüfverfahrens wird eine Bypass-Diode einer ESD-Prüfung mit zunehmender Beanspruchung unterzogen, und das Analyseverfahren stellt ein Mittel zur Analyse und Extrapolation der resultierenden Ausfälle mit Hilfe einer zweiparametrigen Weibull-Verteilungsfunktion dar.
Ziel dieser Technischen Spezifikation ist, ein allgemeines und reproduzierbares Prüfverfahren für die Bestimmung der Stoßfestigkeitsspannung von Dioden einzuführen, das einem ESD-Ereignis im Verlauf des Herstellungs-, Verpackungs-, Transport- oder Installationsprozesses entspricht.

Dieses Dokument wird folgenden, in Fettschrift gekennzeichneten, Fachgebiet(en) zugeordnet:

27 ENERGIETECHNIK
27.060 Feuerungen. Brenner. Kessel
27.070 Brennstoffzellen
27.080 Wärmepumpen
27.100 Kraftwerke im Allgemeinen
27.120 Kerntechnik
27.140 Wasserkraftwerke
27.160 Solartechnik. Photovoltaik
27.180 Windenergieanlagen
27.190 Erneuerbare Energien. Alternative Energiequellen
27.200 Kältetechnik

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