Cover E DIN EN 61788-7 VDE 0390-7:2018-07
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E DIN EN 61788-7 VDE 0390-7:2018-07

Supraleitfähigkeit

Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

(IEC 90/396/CD:2017); Text Deutsch und Englisch
Art/Status: Norm-Entwurf, gültig
Ausgabedatum: 2018-07   Erscheinungsdatum: 2018-06-22
VDE-Artnr.: 1300082
Ende der Einspruchsfrist: 2018-08-22

Inhaltsverzeichnis

Das Messverfahren, das in dieser Norm beschrieben wird, kann auch für andere plattenförmige (massive) Supraleiter, einschließlich Tieftemperatursupraleiter, angewendet werden.
Mit dieser Norm wird beabsichtigt, jenen Ingenieuren, die auf dem Gebiet der Elektronik und der Supraleitertechnik arbeiten, vorläufig eine geeignete und annehmbare Arbeitsgrundlage zu geben.
Das Messverfahren, das in dieser Norm beschrieben wird, basiert auf der vorbereitenden Arbeit von VAMAS (Versailles Project on advanced Materials and Standards) zu den Dünnfilmeigenschaften von Supraleitern.

Gegenüber DIN EN 61788-7 (VDE 0390-7):2007-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Abschnitt 5 "Geräte" wurde geändert;
b) Abschnitt 6 "Durchführung der Messungen" wurde geändert;
c) drei Messfrequenzen (12 GHz, 18 GHz und 22 GHz) sowie die Maße der Saphirzylinder wurden angepasst;
d) der Anhang wurde ausführlicher gehalten, im Wesentlichen durch die Verlagerung des Abschnitts "Theorie und Gleichungen zur Berechnung";
e) Beispiele für technische Änderungen sind:
- mit Hinsicht auf stabile Messungen werden Resonatoren vom geschlossenen Typ empfohlen;
- zur Festlegung der Größe der Saphirzylinder ist eine uniaxial-anisotrope Charakteristik der Saphirzylinder berücksichtigt worden;
- die empfohlenen Messfrequenzen 18 GHz und 22 GHz wurden zu den in EN 61788-7:2002 beschriebenen 12 GHz hinzugefügt.