Cover E VDE-AR-E 2687-512-16 Anwendungsregel:2022-04
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E VDE-AR-E 2687-512-16 Anwendungsregel:2022-04

Mess- und Prüfverfahren an Kontakten und Anschlüssen von Steckverbindern für elektrisch und elektronische Einrichtungen

Prüfungen an Isolierungshalterungen

Art/Status: Norm-Entwurf, gültig
Ausgabedatum: 2022-04   Erscheinungsdatum: 2022-03-18
VDE-Artnr.: 1600383
Ende der Einspruchsfrist: 2022-05-18

Diese VDE-Anwendungsregel ist nach den Forderungen der Bauart-Spezifikation zum Prüfen von Steckverbindern und Crimp-Verbindungen mit Isolierungs-Halterung anzuwenden, die zum Anwendungs-Bereich des Technischen Komitees der IEC (TC 48) gehören.
Das Dokument beschreibt allgemeine Anforderungen für die Prüfungen in Übereinstimmung mit DIN EN 60512–1–1 (Prüfung 1a) und DIN EN 60512–1–2 (Prüfung 1b). Wenn die Bauart-Spezifikation, eine Prüfung der Kontakt-Verformung nach dem Crimpen vorschreibt, so ist diese in Übereinstimmung mit DIN EN 60512–16–7 (Prüfung 16g) durchzuführen. Es sind zwei Prüfverfahren beschrieben (Wicklung um einen Dorn und Winkel-Biegung).
Die Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.
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This VDE application guide shall be applied in accordance with the requirements of the detail specification for testing of connectors and crimp connections with insulation retention, which belong to the field of application of the IEC Technical Committee (TC 48).
The document describes general requirements for testing according to DIN EN 60512-1-1 (test 1a) and DIN EN 60512-1-2 (test 1b). If the detail specification requires a test of contact deformation after crimping, this shall be performed in accordance with DIN EN 60512-16-7 (test 16g). Two test methods are described (winding around a mandrel and angular bending).
There are no restrictions in the scope of the document.
By applying the standard, the investment reliability for manufacturers and users is increased, and it provides testing institutes and manufacturers with defined information for testing.