DIN EN 60060-1 (VDE 0432-1):2011-10

Gegenüber DIN IEC 60060-1 (VDE 0432-1):1994-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Fremdschichtprüfungen werden nicht mehr detailliert beschrieben, sondern es wird auf IEC 60507 verwiesen. Die dazugehörigen Bilder sind ebenfalls entfallen. b) Bei den atmosphärischen Korrekturfaktoren für die Durchschlagspannung sind die Koeffizienten zur Luftdichte und Luftfeuchtekorrektur verändert worden. c) Bei den Wechselspannungsprüfungen werden ebenfalls nicht mehr die Anforderungen an den Transformatorprüfkreis bei Verschmutzungsprüfungen erwähnt, sondern auf IEC 60507 verwiesen. d) Bei den Wechselspannungsprüfungen wird die Kalibrierung einer Messeinrichtung mit einer nach IEC 60060 zulässigen Messeinrichtung nicht mehr erwähnt, sondern es wird auf IEC 60060-2 verwiesen. Das dazugehörige Bild ist ebenfalls entfallen. e) Bei den Prüfungen mit Blitzstoßspannung wird ein Prüfspannungsfaktor eingeführt, der zur Bestimmung der Prüfspannung bei Blitzstoßspannungen mit Oszillationen im Scheitelbereich notwendig ist. Damit wird die bisherige scharfe Grenze von 500 kHz bei der Bestimmung des Wertes der Prüfspannung der Schwingungen im Scheitel der Blitzstoßspannung eliminiert und durch eine frequenzabhängige Funktion ersetzt. In dem neuen Anhang B wird das Verfahren detailliert beschrieben. In dem neuen Anhang C finden sich Hinweise, wie diese Parameter mit einer Software ermittelt werden können, und im neuen Anhang D wird der Hintergrund zur Einführung des Prüfspannungsfaktor erläutert. f) Bei den Prüfungen mit Schaltstoßspannung wird eine neue Bestimmung der Scheitelzeit eingeführt, indem analog zur Bestimmung der Stirnzeit der Blitzstoßspannung die Zeitdauer zwischen 30 % und 90 % des Scheitelwertes ermittelt und über eine angepasste Formel die Scheitelzeit bestimmt wird g) Der Abschnitt Stoßstrom ist nicht mehr enthalten, da dieser nun gemeinsam der gesamten Hochstrom-Prüftechnik in DIN EN 62475 (VDE 0432-20):2011-09 veröffentlicht ist. h) Im Anhang A "Statistische Bearbeitung von Prüfergebnissen" sind zwei Bilder zum Verlauf der Gruppe 1: Spannungssteigerungsprüfungen und Gruppe 2: Auf-und-Ab-Verfahren ergänzt worden. i) Der bisherige Anhang B "Verschmutzungsprüfverfahren" ist nicht mehr enthalten, da für Verschmutzungsprüfverfahren auf IEC 60507 verwiesen wird. j) Der bisherige Anhang C "Kalibrierung einer Messeinrichtung mit einer Stabfunkenstrecke" ist nicht mehr enthalten, da die Messung mit Stabfunkenstrecken in DIN EN 60052 integriert worden ist. k) Im neuen Anhang E wird eine Berechnungsmethode für atmosphärische Korrekturfaktoren beschrieben.