DIN EN 61788-15 (VDE 0390-15):2012-08

Dieser Teil der IEC 61788 beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (ZS) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit Hilfe eines modifizierten dielektrischen Resonatorverfahrens im Doppelresonanzmodus [13, 14]. Gegenstand der Messung ist, die Temperaturabhängigkeit des intrinsischen ZS bei der Resonanzfrequenz zu erhalten. Der Frequenzbereich und die Messauflösung für das intrinsische ZS von HTS-Filmen sind wie folgt: - Frequenz: ca. 40 GHz - Messauflösung: 0,01 Milliohm bei 10 GHz Die Daten für das intrinsische ZS bei der gemessenen Frequenz sowie die - unter der Annahme des f2–Gesetzes für den intrinsischen Oberflächenwiderstand RS (f kleiner 50 GHz) und des f-Gesetzes für die intrinsische Oberflächenreaktanz XS zum Vergleich - auf 10 GHz skalierten Daten sollen angegeben werden.