DIN EN 62132-1 (VDE 0847-22-1):2016-09

Die Messungen der eingespeisten Spannungen und Ströme - in Verbindung mit dem Antwortverhalten der unter geregelten Bedingungen geprüften integrierten Schaltungen (IC) - liefern für einen bestimmten Anwendungsfall Informationen über die mögliche Störfestigkeit eines IC gegen leitungsgeführte und eingestrahlte hochfrequente-Störgrößen. In diesem Dokument werden allgemeine Bedingungen beschrieben, die erforderlich sind, um gleichbleibende quantitative Messungen der Störfestigkeit von IC zu erhalten. Zu erwartende kritische und die Messergebnisse beeinflussende Parameter werden in diesem Dokument beschrieben. Abweichungen von diesem Dokument sind im entsprechenden Messprotokoll zu beschreiben. Die Messergebnisse können sowohl für Vergleichs- als auch andere Zwecke verwendet werden. Dieser Teil von IEC 62132 liefert allgemeine Informationen und Definitionen zur Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit integrierter Schaltungen gegen leitungsgeführte und eingestrahlte Störgrößen. Dieser Teil gibt auch eine Beschreibung der Messbedingungen, der Messeinrichtung und des spezifischen Mess-Aufbaus sowie der Messverfahren und des Inhalts der Messprotokolle. In Anhang A sind Tabellen zum Vergleich der Messverfahren, die in den anderen teilen dieser Normenreihe festgelegt sind, angegeben, um die Wahl des entsprechenden Messverfahrens zu unterstützen. Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.