DIN EN 62321-4 (VDE 0042-1-4):2018-05

Die Internationale Normenreihe IEC 62321 stellt Prüfverfahren zur Verfügung, die es der elektrotechnischen Industrie ermöglichen, die Konzentration bestimmter bedenklicher Stoffe in elektrotechnischen Produkten auf einer weltweit einheitlichen Grundlage zu bestimmen. Teil 4 der Normenreihe beschreibt Prüfverfahren für Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mit CV-AAS (Kaltdampf-Atomabsorptionsspektrometrie), CV-AFS (Kaltdampf-Atomfluoreszenzspektrometrie), ICP-OES (optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma) und ICP-MS (Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma). Diese Berichtigung soll zum einen Missverständnisse der Leser mit der Anwendung des Grenzwertes der Wellenlänge in Anhang A (informativer Abschnitt) aufheben, zum anderen das Problem der Matrix-Effekte in Lampen-Komponenten besser beschreiben. Denn insbesondere die Phosphor-Komponenten hängen von Lampen ab. Daher ist es erforderlich, dass analytische Experten ihre Matrixeffekte oder Störeffekte selbst untersuchen. Zuständig ist das DKE/K 135 "Erfassung von Stoffen in Produkten der Elektrotechnik" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE. Zuständig ist das DKE/K 135 "Erfassung von Stoffen in Produkten der Elektrotechnik" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.