DIN EN IEC 61784-3 (VDE 0803-500):2022-02

Gegenüber DIN EN 61784-3 (VDE 0803-500):2017-09, DIN EN 61784-3 Berichtigung 1 (VDE 0803-500 Berichtigung 1):2018-05 und DIN EN 61784-3/A1 (VDE 0803-500/A1):2018-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Inhalte des früheren Anhang F wurden auf der Grundlage von Rückmeldungen aus dem Begutachtungsverfahren und einer nachfolgenden Analyse korrigiert (insbesondere wurde RPU für die Datenintegrität gestrichen, die Gleichung für RRA wurde vereinfacht und Klärungen zu den Werten von RPI und RT) wurden hinzugefügt. b) Zusätzliche Annahmen für die Berechnungen der Restfehler und Klärungen der Annahme a) wurden hinzugefügt. c) Nach der Korrektur wurden Inhalte des früheren Anhang F mit den Inhalten des früheren Abschnitts 5.8 ausgetauscht. d) Inhalte von 5.9 zur Sicherheit wurden in Übereinstimmung mit Guide 120 durch eine einfache Verweisung auf IEC 62443 ersetzt. e) Änderungen in Anhang B: Die Abhängigkeit dieses Anhang B vom BSC-Modell wurde hervorgehoben. In B.2 wurden die ersten beiden Absätze und das Bild aufgrund geringer Relevanz gestrichen. Die Näherungsgleichung (B.4) wurde aufgrund von Veraltung gestrichen, beruhend auf den Beobachtungen, dass die CRC ohnehin ausdrücklich berechnet werden müssen, um „Properness“ (Korrektheit) nachzuweisen, und dass sie möglicherweise zufriedenstellende Ergebnisse liefert. Anleitungen zur Berechnung von RCRC in B.4.2 wurden überarbeitet. f) Änderungen in Anhang D: Gleichung D.1 wurde geändert von einer Näherungsgleichung in eine eindeutige Gleichung, wobei einige Anpassungen vorgenommen wurden und Inhalte von D.4.3 geklärt wurden (voreingestellte Sicherheitsaktivitäten). g) Ein neuer informativer Anhang H wurde hinzugefügt, der zusätzliche Anleitungen für die Berechnung von RCRC enthält.