DIN EN IEC 61967-1 (VDE 0847-21-1):2019-09

Hochfrequente Aussendungen integrierter Schaltungen können zur Beeinflussung der immer empfindlicher werdenden elektronischen Bauteile und Systeme, zu Fehlfunktionen oder deren Ausfällen führen. Um diese Gefährdungen der elektronischen Steuerungen von Geräten, Anlagen und Einrichtungen zu vermeiden, ist es erforderlich eine einheitliche Prüfumgebung festzulegen, um die elektromagnetischen Störungen von integrierten Schaltungen zu messen. Dieser Teil von DIN EN 61967 (VDE 0847-21) enthält allgemeine Informationen und Definitionen zur Messung der leitungsgeführten und abgestrahlten elektromagnetischen Störungen von integrierten Schaltungen. Es werden Messbedingungen, Prüfeinrichtungen, Prüfaufbau und Prüfverfahren sowie der Inhalt des Prüfberichts beschrieben, auf die in den verschiedenen Prüfverfahren dieser Normenreihe Bezug genommen wird. Weiterhin werden kritische Parameter beschrieben, von denen erwartet wird, dass sie die Prüfergebnisse beeinflussen. In einem Anhang werden Vergleichstabellen zu Prüfverfahren zur Verfügung gestellt, um die Auswahl eines geeigneten Messverfahrens zu unterstützen. Gegenüber der DIN EN 61967-1:2003-01 sind folgende Änderungen vorgesehen: Der eingeschränkte Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz wurde aus dem Titel gelöscht und die Anforderungen entsprechend angepasst. Die Vergleichstabellen zu den Prüfverfahren wurden aktualisiert und die allgemeine Beschreibung einer Prüfleiterplatte in einen neuen Anhang verschoben. Die Norm wird unter der VDE Klassifikation 0847-21-1 in das VDE Vorschriftenwerk aufgenommen. Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.