E DIN EN IEC 63550-1 (VDE 0884-3550-1):2026-05

E DIN EN IEC 63550-1 (VDE 0884-3550-1):2026-05

Entwurf

Halbleiterbauelemente – Neuromorphe Bauelemente

Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen

(IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025

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Artikeldetails
  • Umfang: 36 Seiten
  • Sprache: Deutsch
  • Ausgabedatum: 2026-05
  • Erscheinungsdatum: 2026-04-03
  • Ende der Einspruchsfrist: 2026-06-03