IEC 60444-2:1980
Norm
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
- Gültig
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Zuständiges Komitee:
Hauptnummer/Reihe:
60444
Artikeldetails
- Edition: 1.0
- Umfang: 18 Seiten
- Sprache: Bilingual (EN/FR)
- Ausgabedatum: 1980-01
- Erscheinungsdatum: 1980-01-01
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