IEC 60749-11:2002

Norm

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

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Zuständiges Komitee:

Hauptnummer/Reihe:
60749

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Gehört dazu

Norm

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid…

Norm

Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid…

Item 1 of 9

Item 1 of 5

Nutzer	Faktor
Bis zu einschließlich 3 Nutzern	2,5
Bis zu einschließlich 5 Nutzern	3,0
Bis zu einschließlich 10 Nutzern	3,5
Bis zu einschließlich 15 Nutzern	4,0
Bis zu einschließlich 20 Nutzern	4,5

Arbeitsplätze	Faktor
Bis zu einschließlich 3 Arbeitsplätzen	1,50
Bis zu einschließlich 5 Arbeitsplätzen	1,75
Bis zu einschließlich 7 Arbeitsplätzen	2,50
Bis zu einschließlich 10 Arbeitsplätzen	3,0
Bis zu einschließlich 20 Arbeitsplätzen	5,0

Arbeitsplätze	Faktor
Bis zu einschließlich 3 Arbeitsplätzen	1,5
Bis zu einschließlich 5 Arbeitsplätzen	1,75
Bis zu einschließlich 7 Arbeitsplätzen	2,5
Bis zu einschließlich 10 Arbeitsplätzen	3,0