IEC 60749-19:2003

Norm

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

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Zuständiges Komitee:

Hauptnummer/Reihe:
60749

Artikeldetails
  • Edition: 1.0
  • Umfang: 11 Seiten
  • Sprache: Bilingual (EN/FR)
  • Ausgabedatum: 2003-02
  • Erscheinungsdatum: 2003-02-13