IEC 60749-19:2003
Norm
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
- Gültig
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Zuständiges Komitee:
Hauptnummer/Reihe:
60749
- Edition: 1.0
- Umfang: 11 Seiten
- Sprache: Bilingual (EN/FR)
- Ausgabedatum: 2003-02
- Erscheinungsdatum: 2003-02-13








