IEC 60749-22-2:2025

Norm

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods

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Zuständiges Komitee:

Hauptnummer/Reihe:
60749

Artikeldetails
  • Edition: 1.0
  • Umfang: 72 Seiten
  • Sprache: Bilingual (EN/FR)
  • Ausgabedatum: 2025-11
  • Erscheinungsdatum: 2025-11-26