IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
Norm
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
- Gültig
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Zuständiges Komitee:
Hauptnummer/Reihe:
60749
Artikeldetails
- Edition: 2.0
- Umfang: 5 Seiten
- Sprache: Bilingual (EN/FR)
- Ausgabedatum: 2012-09
- Erscheinungsdatum: 2012-09-25
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