IEC 60749-31:2002/COR1:2003
Norm
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
- Gültig
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Zuständiges Komitee:
Hauptnummer/Reihe:
60749
Artikeldetails
- Edition: 1.0
- Sprache: Bilingual (EN/FR)
- Ausgabedatum: 2003-08
- Erscheinungsdatum: 2003-08-13
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