IEC 62047-10:2011

Norm

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials

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Hauptnummer/Reihe:
62047

Artikeldetails
  • Edition: 1.0
  • Umfang: 22 Seiten
  • Sprache: Bilingual (EN/FR)
  • Ausgabedatum: 2011-07
  • Erscheinungsdatum: 2011-07-26