IEC 62047-10:2011
Norm
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
- Gültig
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Zuständiges Komitee:
Hauptnummer/Reihe:
62047
- Edition: 1.0
- Umfang: 22 Seiten
- Sprache: Bilingual (EN/FR)
- Ausgabedatum: 2011-07
- Erscheinungsdatum: 2011-07-26








