IEC 62047-44:2024

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Norm

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices

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Zuständiges Komitee:

Hauptnummer/Reihe:
62047

Artikeldetails
  • Edition: 1.0
  • Umfang: 19 Seiten
  • Sprache: Englisch
  • Ausgabedatum: 2024-02
  • Erscheinungsdatum: 2024-02-22
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