IEC 62047-8:2011
Norm
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
- Gültig
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Zuständiges Komitee:
Hauptnummer/Reihe:
62047
- Edition: 1.0
- Umfang: 36 Seiten
- Sprache: Bilingual (EN/FR)
- Ausgabedatum: 2011-03
- Erscheinungsdatum: 2011-03-14









