IEC 62047-8:2011

Norm

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

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Hauptnummer/Reihe:
62047

Artikeldetails
  • Edition: 1.0
  • Umfang: 36 Seiten
  • Sprache: Bilingual (EN/FR)
  • Ausgabedatum: 2011-03
  • Erscheinungsdatum: 2011-03-14