IEC 62899-503-3:2021

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Norm

Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method

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Zuständiges Komitee:

Hauptnummer/Reihe:
62899

Artikeldetails
  • Edition: 1.0
  • Umfang: 13 Seiten
  • Sprache: Englisch
  • Ausgabedatum: 2021-08
  • Erscheinungsdatum: 2021-08-24
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