Display
Order by
Page 2 of 2

1

Robust Analog Design for Automotive Applications by Design Centering

Authors:
Sobe, Udo; Rooch, Karl-Heinz; Pronath, Michael
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

2

Statistical Interconnect Variations: Extraction and Simulation

Authors:
Kinzelbach, Harald
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

3

Statistische Laufzeitmodellierung digitaler Gatter mittels analytischem Timing-Modell und Dichte-Transformationssatz

Authors:
Schneider, Walter; Schmidt, Manuel; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

4

Synthese zuverlässiger und flexibler Systeme

Authors:
Glaß, Michael; Lukasiewycz, Martin; Streichert, Thilo; Haubelt, Christian; Teich, Jürgen
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

5

Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme

Authors:
Becker, Bernd; Polian, Ilia; Hellebrand, Sybille; Straube, Bernd; Wunderlich, Hans-Joachim
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

6

Timing-Driven-3D-Platzierung mit einem kräftebasierten Ansatz

Authors:
Ohlendorf, Ole; Olbrich, Markus; Barke, Erich
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

7

Towards a Systematic Design of Fault-Tolerant Asynchronous Circuits

Authors:
Schmid, Ulrich; Steininger, Andreas; Veith, Helmut
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

8

Übertragung von Methoden zur Bewertung der Hardwarezuverlässigkeit auf komponentenbasierte Softwaresysteme

Authors:
Wedel, Michael; Göhner, Peter
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

9

Verification of FlexRay using directed and coverage-based testing – A comparison

Authors:
Baumeister, Markus; Ungermann, Jörn
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

10

Verlustleistungsoptimierende Testplanung zur Steigerung von Zuverlässigkeit und Ausbeute

Authors:
Imhof, Michael E.; Zöllin, Christian G.; Wunderlich, Hans-Joachim; Mäding, Nicolas; Leenstra, Jens
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

11

Verwendung von Gebietsarithmetiken zum Entwurf robuster Schaltungen und Systeme

Authors:
Freisfeld, M.; Olbrich, M.; Grimm, C.; Barke, E.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

12

Via-Array-Testchip, ein Verfahren zur Optimierung von Zuverlässigkeit und Qualität von CMOS-Bausteinen

Authors:
Kohlert, Dieter; Holmer, Rainer
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

13

Zuverlässigkeitserhöhung mit funktionalen Monitoren

Authors:
Eveking, H.; Schickel, M.; Braun, M.; Nimbler, V.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung