Robuster Selbsttest mit Diagnose

Inhalt:
Robuste Schaltungen können bestimmte Fehler tolerieren, stellen aber auch besonders hohe Anforderungen an Test und Diagnose. Um Ausbeuteverluste zu vermeiden, muss der Test kritische Fehler von unkritischen Fehlern unterscheiden, die sich während des Systembetriebs nicht auswirken. Zur Verbesserung des Produktionsprozesses muss außerdem eine effiziente Diagnose für erkannte kritische Fehler unterstützt werden. Bisherige Arbeiten für Schaltungen mit Zeitredundanz haben gezeigt, dass ein Selbsttest mit Rücksetzpunkten kostengünstig kritische permanente Fehler von unkritischen transienten Fehlern unterscheiden kann. Hier wird der Selbsttest in N Sitzungen unterteilt, die bei einem Fehler sofort wiederholt werden. Tritt beim zweiten Durchlauf einer Sitzung kein Fehler mehr auf, geht man von einem transienten Fehler aus. Dabei genügt es, die Referenzantworten für die einzelnen Sitzungen in stark kompaktierter Form abzulegen. Statt einer vollständigen Signatur wird nur eine kurze Bitfolge gespeichert, welche die Signaturberechnung über mehrere Zeitpunkte hinweg charakterisiert. Die vorliegende Arbeit erweitert das Testen mit Rücksetzpunkten zu einem integrierten Test- und Diagnoseprozess. Es wird gezeigt, dass ein einziger Testdurchlauf mit stark kompaktierten Referenzwerten genügt, um eine vergleichbare diagnostische Auflösung zu erreichen wie bei einem Test ohne Antwortkompaktierung.