EMV-Bewertung von Mikrocontrollern für den Kfz-Einsatz
Konferenz: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
07.03.2006 - 09.03.2006 in Düsseldorf, Germany
Tagungsband: EMV 2006
Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF
Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Artikel 10% Rabatt
Autoren:
Trebeck, Matthias; Körber, Bernd (FTZ e.V. an der Westsächsischen Hochschule Zwickau (FH))
Claus, Lothar (Volkswagen AG, Wolfsburg)
Sperling, D. (Westsächsische Hochschule Zwickau (FH))
Inhalt:
Bei der Betrachtung der EMV von elektronischen Systemen spielen integrierte Schaltkreise (IC) eine zentrale Rolle. Für bestimmte integrierte Schaltkreise, die hauptsächlich im Kfz-Bereich eingesetzt werden, wie LIN-, CAN- und FlexRay- Transceiver, gibt es daher einen Konformitätsprozess, der bereits für die Halbleiter- Ebene EMV-Vorgaben macht. Für Mikrocontroller gibt es nun im Automobilbereich einen vergleichbaren Vorgang, der unter anderem Grenzwerte für die Störaussendungsmessung nach IEC 61967-4 (150 Ohm Methode) festlegt. Im Beitrag wird der Einfluss verschiedener Parameter auf die Ergebnisse der leitungsgeführten Störaussendungsmessungen am IC vorgestellt. Es werden die Messungen an Mikrocontrollern mit Messungen nach verschiedenen Komponentenmessverfahren verglichen. Dabei erfolgt ein Vergleich der Störaussendung für die Messverfahren mit dem Ziel der Grenzwertfindung für die ICMessung.