Diagnose realistischer Defekte mit Hilfe des X-Fehlermodells
Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung
29.09.2008 - 01.10.2008 in Ingolstadt, Germany
Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf
Seiten: 2Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Ilia Polian; Engelke, Piet; Hillebrecht, Stefan; Becker, Bernd (Institut für Informatik, Universität Freiburg, Georges-Köhler-Allee 51, 79110 Freiburg)
Nakamura, Yusuke; Miyase, Kohei; Kajihara, Seiji; Wen, Xiaoqing (Faculty of CS and Systems Eng., Kyushu Institute of Technology, Iizuka-shi, 820-8502, Japan)
Inhalt:
Für heutige Diagnoseverfahren stellen Nichtstandarddefekte eine Herausforderung dar. Wir untersuchen die Leistungsfähigkeit der vor kurzem vorgestellten X-Fehlerdiagnose für zwei hochkomplexe Defektklassen. Simulationsexperimente zeigen die Überlegenheit der X-Fehlerdiagnose gegenüber den traditionellen Methoden.