Einfluss des Schaltungsdesigns auf die Testbarkeit von integrierten Mobilfunktransceivern in CMOS-Technologie

Abstract:
CMOS-Technologien haben sich als Standard für die Fertigung von integrierten HF-Schaltungen etabliert. Sie erlauben eine kostengünstige Integration von neuartigen und komplexen Schaltungskonzepten. Sendeempfangsbausteine für die unterschiedlichen Mobilfunkstandards profitieren von dieser Entwicklung ebenso wie andere überwiegend kostengetriebene Produkte für den breiten Massenmarkt. Die sinkenden Herstellungskosten erfordern kosteneffiziente Testkonzepte, damit sich diese Produkte wirtschaftlich produzieren und vermarkten lassen. Ein fertigungsgerechtes Design ist gefragt, um die resultierenden Testkosten niedrig zu halten. Zielführende Ansätze lassen sich unterteilen in Maßnahmen zur Erhöhung der Testausbeute sowie Maßnahmen zur direkten Reduzierung der Testkosten. Im Folgenden werden einige Lösungsansätze vorgestellt.