Erfahrungen mit einem Langzeitprüfverfahren für Silikonisolatoren mit zyklischer Betauung von haftenden künstlichen Fremdschichten

Abstract:
Es wird ein Prüfverfahren mit zyklischer Betauung für Langzeitversuche an Mittelspannungs-Silikonisolatoren vorgestellt. Die Analyse der durchgeführten Versuche zeigt, dass bei Befeuchtung durch Betauung eine vorhandene Oberflächenhydrophobie überdeckt wird. Bei nahezu unbeeinflusstem Verschmutzungsgrad (SDD-Wert) stellt sich bei mehrfache Betauung eine extrem ungleichmäßige Verteilung der Leitfähigkeit auf den Schirmoberseiten ein, die zu großen Kriechweganteilen mit sehr geringer Leitfähigkeit und zur Erhöhung der Leitfähigkeit an den Schirmrändern führt. Die dynamische Entwicklung führt zu einem wechselnden Ableitstromverhalten. Die Ableitstromaktivität wird nach wenigen Prüfzyklen infolge der lokalen Kriechweganteile mit geringer Leitfähigkeit unterdrückt. Das beschriebene Prüfverfahren ist in dieser Art für Langzeit-Betauungsversuche nicht geeignet, da es die Stromaktivität nach wenigen Zyklen selbst verhindert.