Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse für eingebettete Speicher

Abstract:
Eine hohe Ausbeute und Verfügbarkeit von Ein-Chip-Systemen lässt sich nur mit Hilfe einer effizienten Test- und Reparaturinfrastruktur für die eingebetteten Speicherfelder erreichen. Aktuelle Verfahren zur eingebauten Selbstreparatur von Speichern greifen oft auf vorgefertigte Blöcke für den Test zurück. Diese speziell für den Selbsttest entworfenen Blöcke können meist ohne jegliche Veränderung in die Reparaturinfrastruktur integriert werden, erlauben allerdings meist kein optimales Zusammenspiel von Test und Reparatur. In dieser Arbeit wird deshalb das Konzept eines modularen Speichertests vorgestellt. Nur geringfügige Änderungen der Teststeuerung sind notwendig, um den Test zu modularisieren und dadurch eine hocheffiziente Interaktion zwischen Test und Reparatur zu ermöglichen.