Abschätzung von Bauelemente-Lebensdauer und SOA-Grenzen zur Unterstützung des Entwurfs zuverlässiger Schaltungen
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung
09/29/2008 - 10/01/2008 at Ingolstadt, Germany
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 2Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Jancke, Roland (Fraunhofer Institut für Integrierte Schaltungen, Institutsteil Entwurfsautomatisierung Dresden)
Ellmers, Christoph; Gaertner, Roberto (X-FAB Dresden GmbH & Co. KG)
Frevert, Ronny (ZMD AG, Dresden)
Abstract:
Der Entwurf zuverlässiger Schaltungen in modernen Fertigungstechnologien ist zukünftig nur noch mit Hilfe von hochentwickelten Modellierungs- und Simulationsmethoden möglich. Der vorliegende Beitrag präsentiert Verfahren, mit denen sich Degradationseffekte von Bauelementen und deren Auswirkungen auf das Gesamtverhalten einer Schaltung untersuchen lassen. Als ein wichtiger Degradationsmechanismus für NMOS-Transistoren wird die Hot-Carrier-Injection betrachtet. Die Berechnung und Visualisierung von SOA-Diagrammen (SOA: Safe Operating Area) unterstützt den Entwerfer bei der Analyse von Ursachen für vorzeitige Alterung.