Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen

Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
09/21/2009 - 09/23/2009 at Stuttgart, Germany

Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf

Pages: 7Language: germanTyp: PDF

Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title

Authors:
Koal, T.; Scheit, D.; Vierhaus, H. T. (Brandenburgische TU Cottbus, Lehrstuhl Technische Informatik)

Abstract:
Für hochintegrierte Schaltungen, die mit Strukturgrößen weit unter 100 nm gefertigt werden, existieren seit einigen Jahren Voraussagen für neue Fehlermechanismen, die neben transienten auch permanente Fehler betreffen. Während transiente Fehler nach Erkennung und ggf. Kompensation ohne weitere Auswirkungen bleiben, erfordern permanente Fehler eine nachfolgende Reparaturfunktion, wenn die Zuverlässigkeit des Systems abgesichert werden soll. Techniken des eingebauten Selbsttests (BIST) und der nachfolgenden Selbstreparatur (BISR) sind für irreguläre Logik-Baugruppen bisher kaum entwickelt worden. Nachfolgend werden Probleme, Möglichkeiten und Architekturen für selbstreparierende Logik gezeigt.