Statistische Parasitics-Extraktion und Crosstalk-Noise
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
09/21/2009 - 09/23/2009 at Stuttgart, Germany
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 2Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Heinig, Andy; Sohrmann, Christoph (Fraunhofer IIS/EAS, Zeunerstrasse 38, 01069 Dresden, Germany)
Abstract:
Crosstalk-Noise gewinnt in modernen Fertigungstechnologien im Bereich unter 100nm zunehmend an Bedeutung, da sich sowohl verringerte Leitungsabstände als auch das ungünstigere Verhältnis aus Leitungsbreite zu Leitungshöhe stark negativ auf das Schaltverhalten und die korrekte Funktion sowie den Energieverbrauch der Schaltung auswirken. Da in sub-100nm Technologien nicht nur Crosstalk-Noise-Effekte sondern auch Parameterschwankungen zunehmen, ist es unumgänglich, diese bei der Analyse mit zu berücksichtigen. Keine der be-kannten Ansätze liefert dazu eine befriedigende Lösung. Hier wird eine Methode vorgestellt, mit der technologiebedingte Paramterschwankungen in Leitungsstrukturen auf RC-Ersatzschaltung abgebildet werden können.