Alterungsanalyse digitaler Schaltungen auf Gatterebene
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
09/21/2009 - 09/23/2009 at Stuttgart, Germany
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 6Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Lorenz, Dominik; Schlichtmann, Ulf (Institut für Entwurfsautomatisierung, Technische Universität München, München, Deutschland)
Georgakos, Georg (Infineon Technologies AG, Neubiberg, Deutschland)
Abstract:
Wir stellen eine Methode vor, mit der das Timing-Verhalten einer gealterten Schaltung ermittelt werden kann. Dies ist der erste Ansatz auf Gatterebene, der den Einfluss beider dominierender Alterungseffekte – NBTI und HCI – auf komplexe digitale Schaltungen analysiert. Das verwendete Gattermodell liefert neben den gealterten Laufzeiten auch eine gealterte Ausgangsflankensteilheit. Für eine möglichst genaue Analyse kann die individuelle Arbeitslast der einzelnen Gatter berücksichtigt werden. Es ist auch möglich eine Worst-Case-Abschätzung der Alterung zu ermitteln.