Logisch-statistische Simulation mit Temperatur- und Spannungskartierung zur Vorhersage von Variations- und Alterungseffekten

Abstract:
Wir präsentieren eine statistische Beschreibung digitaler Systeme, die aufgrund einer vorhergehenden taktgenauen Simulation des Systems dessen Verhalten über den gesamten Lebenszyklus des Systems hinweg vorhersagt. Der Simulator berücksichtigt dabei die Wechselwirkungen zwischen der Verlustleistung (statisch und dynamisch), der Temperatur- und Spanungsverteilung sowie verschiedener Alterungseffekte. Da der Einfluss globaler Fertigungsschwankungen auf diese Wechselwirkungen ebenso wie auf die Systemgeschwindigkeit berücksichtigt werden kann, wird eine Vorhersage des mittleren Verhaltens vieler Systeme hinsichtlich funktionales Versagens und parametrischer Fehler zur Produktion und über die Lebensspanne des Systems hinweg möglich.