Mikro-Hysteresemesssensor zur Vermessung anisotroper Dünnfilme
                  Conference: MikroSystemTechnik - KONGRESS 2009
                  10/12/2009 - 10/14/2009 at Berlin              
Proceedings: MikroSystemTechnik
Pages: 4Language: germanTyp: PDF
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            Authors:
                          Flick, Eva; Gatzen, Hans Heinrich (Institut für Mikrotechnologie, Produktionstechnisches Zentrum, Leibniz Universität Hannover, An der Universität 2, 30823 Garbsen)
                          Feindt, Karsten (innomas GmbH, Werner-von-Siemens Straße 12, 98693 Ilmenau)
                      
              Abstract:
              Um eine qualitativ hochwertige Fertigung magnetischer Mikrobauteile sicherzustellen, ist es erforderlich, die Eigenschaften der darin eingesetzten magnetischen Dünnfilme entsprechend ihrer Spezifikationen zu gewährleisten. Dies gilt insbesondere für anisotrope Filme. Diese Veröffentlichung berichtet über die Entwicklung, Fertigung und Charakterisierung eines Mikrosensorchips zur messtechnischen Erfassung der magnetischen Hysterese bestehend aus zwei rechtwinklig zueinander angeordneten Sensoren. Dieses Messprinzip erlaubt die Erfassung der Eigenschaften magnetischer anisotroper Dünnfilme entlang beider Achsen.            

