Genauigkeit der Schnittstellen 61850 – Testszenarien und Testanforderungen für Merging Unit
Conference: Internationaler ETG-Kongress 2009 - Fachtagung 1: Intelligente Netze / Fachtagung 2: Leistungselektronik in Netzen
10/27/2009 - 10/28/2009 at Düsseldorf, Germany
Proceedings: Internationaler ETG-Kongress 2009
Pages: 6Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Gurbiel, Marcin; Naumann, André; Styczynski, Zbigniew A. (Otto-von-Guericke-Universität, Magdeburg, Deutschland)
Blumschein, Jörg (Siemens AG, Berlin, Deutschland)
Abstract:
In diesem Paper wird ein Prüfstand für Merging Units vorgestellt. Dieser Prüfstand untersucht Mergin Units gemäß der Genauigkeitsanforderungen, die sich aus den Anwendungsfällen dieses Gerätes ergeben. Die Prüfung geschieht nach einem genau definierten Prüfprotokoll. Am Ende des Papers wird ein real durchgeführter Prüfvorgang beschrieben und die Ergebnisse dieser Prüfung vorgestellt.