SAFT und TOFD - ein Vergleich im Analyseverhalten von Reflektoren
Conference: Sensoren und Messsysteme 2010 - 15. ITG/GMA-Fachtagung
05/18/2010 - 05/19/2010 at Nürnberg
Proceedings: Sensoren und Messsysteme 2010
Pages: 8Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Kitze, J. (BAM Berlin Fachgruppe VIII.4, Unter den Eichen 87, 12205 Berlin, Deutschland)
Brackrock, D.; Gaal, M.; Prager, J.; Brekow, G.; Kreutzbruck, M. (BAM Berlin, Unter den Eichen 87, 12205 Berlin, Deutschland)
Paczolay, G. (Atomerömü Paks, Hungary)
Abstract:
Mit der Gruppenstrahlertechnik der Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (COMPAS XL) sind umfangreiche Untersuchungen an einer plattierten Reaktordruckbehälter-Testwand durchgeführt worden. In der vorliegenden Testwand mit einer Wanddicke von 149 mm befinden sich künstliche Testreflektoren im Schweißnaht- und Plattierungsbereich, die mit Gruppenstrahler-Prüfköpfen mit unterschiedlichen Frequenzen, Einschallwinkeln und Einschallrichtungen nachgewiesen und in ihrem Anzeigenverhalten analysiert wurden. Zur Rekonstruktion der Reflektoranzeigen wurde ein in der Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung entwickelter SAFT-Algorithmus verwendet, der die Variation der Einschallwinkel berücksichtigt. Des Weiteren sind die Reflektoren mit der TOFD-Technik analysiert worden. Ziel der Untersuchungen war der direkte Vergleich der Eignung der SAFT- und TOFD-Technik zur quantitativen Reflektorgrößenbestimmung. Die Prüfergebnisse zeigen die Möglichkeiten und die Grenzen der Analyseverfahren sowie die weiteren Entwicklungsmöglichkeiten.