Mehrstufig kalibrierbare temperaturstabile Referenz

Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
09/27/2011 - 09/29/2011 at Hamburg-Harburg, Deutschland

Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf

Pages: 6Language: germanTyp: PDF

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Authors:
Gruber, Dominik; Hilber, Gerald; Ostermann, Timm (Institut für Integrierte Schaltungen, Johannes Kepler Universität Linz, Linz, Österreich)

Abstract:
Im vorliegenden Beitrag wird eine mehrstufig kalibrierbare temperaturstabile Referenz präsentiert. Diese kann über einen internen oder externen Abgleichalgorithmus eingestellt werden. Die Einstellung kann während des Fertigungstests durchgeführt und in einem on-chip Speicher (z.B. OTP) dauerhaft gespeichert werden. Durch den Abgleich können die Einflüsse von Mismatch und Prozessvariation auf die Referenzspannung ausgeregelt werden. Aufgrund des mehrstufigen Systems kann die Referenz über einen größeren Spannungsbereich eingestellt werden.