Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
09/27/2011 - 09/29/2011 at Hamburg-Harburg, Deutschland
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 2Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Koal, Tobias; Vierhaus, Heinrich. T. (BTU Cottbus, Lehrstuhl Technische Informatik, Deutschland)
Beck, Matthias-Stephan (Infneon Technologies AG, Neubiberg, Deutschland)
Abstract:
Die zunehmende Anfälligkeit von nano-elektronischen Bausteinen und Baugruppen gegen transiente Fehlereffekte durch eingestreute Störungen und Partikel-Strahlung ist seit langem Gegenstand der Forschung. Reparatur-Funktionen, welche defekte oder verschlissene Bausteine durch (mehr oder weniger) frische Ressourcen im Rahmen einer Reparatur ersetzen können, ermöglichen einen signifikanten Zuwachs an Lebensdauer des Systems. Diese lässt sich unter Umständen dann nochmals verbessern, wenn verfügbare Redundanz nicht bis zum Reparaturvorgang brachliegt, sondern vorab gezielt zum "Destressing" elektrisch und thermisch hoch belasteter Bausteine und Baugruppen verwendet werden kann. Für den Halbleiter-Hersteller, der denselben Baustein in möglichst großer Stückzahl fertigen möchte, ergeben sich weitere Aspekte. Sind in einem hochintegrierten System verfügbare redundante Baugruppen wahlweise für die Reparatur nach der Fertigung einerseits und bei Frühausfällen andererseits einsetzbar, so kann hier eine Optimierung nach Marktlage erfolgen.