Robuste Power-On-Reset Schaltung mit Kalibrierung im Fertigungstest
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung
09/25/0000 - 09/27/2012 at Bremen, Deutschland
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 8Language: germanTyp: PDF
Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title
Authors:
Hilber, Gerald; Gruber, Dominik; Sams, Michael; Ostermann, Timm (Institut für Integrierte Schaltungen, Johannes Kepler Universität Linz, Linz, Österreich)
Abstract:
Dieser Beitrag stellt eine einstellbare Power-On Reset (POR) Schaltung mit sehr genauen Schwellspannungen vor. Die Genauigkeit der POR-Schwellen wird dabei mit Hilfe der Kalibrierung der verwendeten On-Chip Referenzengenerierung erzielt. Die Kalibrierung jedes einzelnen ICs erfolgt im Fertigungstest. Es werden zwei verschiedene Methoden zur Kalibrierung vorgestellt, wobei die Methode der direkten Kalibrierung der unteren POR-Schwelle VL die genaueren Ergebnisse liefert. Durch die Kalibrierung kann nicht nur die Variation der Schwellspannungen über die Fertigungstoleranzen von 90mV auf 7mV gesenkt, sondern auch der Absolutwert geändert werden.