Einfluss von digitalen Layout-Varianten auf die Robustheit von ICs
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung
09/24/2013 - 09/26/2013 at Dresden, Deutschland
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 4Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Rauchenecker, Andreas; Hilber, Gerald; Stitz, Holley; Ostermann, Timm (Institut für Integrierte Schaltungen, JKU Universität Linz, Österreich)
Abstract:
Im vorliegenden Beitrag wird der Einfluss von Unterschieden im Layout in Bezug auf die Robustheit Integrierter Schaltungen analysiert. Die Unterschiede liegen in dem Versorgungsring um digitale Schaltungsblöcke, sowie zusätzlicher Versorgungsleitungen im Core und Kapazitäten in Füllerzellen. Hierzu werden die Störeinkopplungen innerhalb der Integrierten Schaltung untersucht, sowie TEM-Zellen Messungen gemäß der Norm 61967 herangezogen. Der Einfluss von Prozessschwankungen auf die Analyse wird ebenfalls betrachtet. Aufgrund der TEM-Zellen Messungen können keine klaren Aussagen bzgl. breitbandiger Verbesserung angeben werden, jedoch können bzgl. der internen Störeinkopplungen eine Reduzierung bzgl. dem Einsatz von Kapazitäten in Füllerzellen dargestellt werden.